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缺陷無損紅外檢測(cè)

簡(jiǎn)要描述：硅基半導(dǎo)體Wafer、碲化鎘CdTe、碲鎘汞HgCdTe襯底 缺陷無損紅外檢測(cè)

  • 產(chǎn)品型號(hào)：Wafer HgCdTe HgCdTe
  • 廠商性質(zhì)：代理商
  • 更新時(shí)間：2023-02-23
  • 訪  問  量：2158

詳細(xì)介紹

硅基半導(dǎo)體Wafer、碲化鎘CdTe、碲鎘汞HgCdTe襯底 缺陷無損紅外檢測(cè)

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